Produktbeschreibung

● In-situ-Flecken-Charakterisierung der Nebenwege

Spektrometer und Strahlenanalysatoren

Wellenlängenbereich von 10 bis 80 nm

• Schnelle und einfache Integration

• Kompakte Multifunktionsgeräte

Für die in situ periodische Probenahme von XUV-Strahlen ist das nanoLIGHT ein komplettes Charakterisierungsinstrument. nanoLIGHT kombiniert die Funktionalität eines XUV-Spektrometers und eines XUV-Strahlanalysators und ermöglicht die vollständige Wiederherstellung des Strahlbypasses. Ein schneller und automatischer Wechsel zwischen verschiedenen Arbeitsmodi ist möglich.

Mit seiner kompakten Konstruktion von 16x17cm² eignet sich nanoLIGHT für kleine experimentelle Einstellungen und ist die perfekte Transformationslösung.

Der nanoLIGHT kann einen extrem breiten Wellenlängenbereich von 10 bis 80 nm gleichzeitig aufzeichnen und seine Filtereinführungseinheit ermöglicht die Auswahl und Kalibrierung mit einem Metallfilter.

Der MCP-Detektor mit einer vollständigen Rastereffizienz von bis zu 20 % und einer einstellbaren Empfindlichkeit ermöglicht dem Spektrometer einen großen Dynamikbereich.

Eine maßgeschneiderte In-Hole-Version von nanoLIGHT ist verfügbar!

　　Technische Parameter:

Raster Effizienz:

Anwendungen

Hochharmonische Quellen

Atosekundenwissenschaft

Starke Wechselwirkung von Laser und Substanz

Freie Elektronen Laser