Raumliche Auflösung im Mikrometer-Maßstab - MEEPLIBS
MEEPLIBS kann die Elementanalyse der räumlichen Auflösung auf Mikrometer-Skala durchführen, die in Kombination mit herkömmlichen Mikroskopen realisiert wird * mit den Standardanalysekalibern von 15 und 18 Mikrometer (zui kann bis zu 4 Mikrometer) und kann in Raumtemperatur oder in einer spezifischen Umgebung getestet werden.
Weit verbreitet in der Echtzeit-Elementanalyse der räumlichen Auflösung von Halbleitermaterialien und Plattenmaterialien im Mikrometer-Maßstab.
Systemeigenschaften:
Lichtquelle: 266nm UV-Laser
Laserstrahlformung mit Dämpfer, Laserleistungssoftware einstellbar
Automatische Temperaturregelung des Detektionssystems möglich
Konfiguration einer Kamera im System, mit der der Benutzer den Probenbereich der Prüfung in Echtzeit beobachten kann
Konfiguration eines elektrischen dreidimensionalen Reglers zur Kalibrierung der Laserfokussstelle, Verbesserung der Genauigkeit der Wiederholbarkeit von Experimenten und sequentielle Messungen von Proben
Analyse der Messung aller Elemente einschließlich der Masse zui Leicht
Keine Probenvorbehandlung erforderlich, schnelle Prüfung