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Keithley 4200A-SCS Parameteranalysator
Beschleunigen Sie mit dem Parameteranalysator 4200A-SCS (Parametertester) die Entwicklung verschiedener Materialien, Halbleitergeräte und fortschrittl
Produktdetails

Parameter überprüfen, schnell und klar.

Die mutige Entdeckung voranzutreiben war noch nie so einfach. Der Parameteranalysator 4200A-SCS reduziert die Zeit von der Einstellung bis zur Durchführung der Prüfung um bis zu 50 % und bietet eine unvergleichliche Mess- und Analysefähigkeit. Darüber hinaus bietet die eingebettete Messkompetenz eine unvergleichliche Prüfberatung und informiert Sie über die Endergebnisse.

Eigenschaften

  • Fortgeschrittene Messhardware für DC-IV-, CV- und Impuls-IV-Messtypen
  • Mit den hunderten Benutzern, die in der Clarius-Software enthalten sind, können Sie Anwendungstests jetzt anpassen
  • Automatische Echtzeitparameterextraktion, Datenzeichnung, Analysefunktionen

Genaue C-V-Charakterisierung

Messung der einstelligen Flugmethode mit der neuesten Kapazitativ-Spannungseinheit (CVU) 4215-CVU in Gibraltar. Durch die Integration einer 1 V Wechselstromstromversorgung in die branchenführende CVU-Architektur von Gibraltar ermöglicht die 4215-CVU geräuscharme Kapazitätsmessungen bei Frequenzen von 1 kHz bis 10 MHz.

Eigenschaften

  • Erstes CV-Messgerät seiner Art, das 1 V Wechselstromspannung antreibt
  • Frequenz 1 kHz, Auflösung von 1 kHz bis 10 MHz
  • Messung von Kapazitäten, Leitungen und Leitern
  • Messung von bis zu vier Kanälen mit 4200A-CVIV Multiplex

Femtofarad (1e-15F) Kapazitätsmessung mit 4215-CVU

Messen, wechseln, wiederholen.

Das Mehrkanalschaltmodul 4200A-CVIV wechselt automatisch zwischen I-V- und C-V-Messungen, ohne dass die Sondenende neu verdrahtet oder angehoben werden muss. Im Gegensatz zu den Konkurrenzprodukten bietet der Vierkanal-Monitor 4200A-CVIV eine lokale Visualisierung, die die Testeinstellungen schnell abschließt und bei unerwarteten Ergebnissen problemlos behebt.

Eigenschaften

  • Verschieben Sie die C-V-Messung auf jedes Endgerät ohne eine Neuverdrahtung
  • Anwender können Low-Strom-Funktionen konfigurieren
  • Name des Ausgangskanals anpassen
  • Echtzeit-Teststatus anzeigen

Stabile niedrige Strommessung für I-V-Prüfungen

Mit den Modulen 4201-SMU und 4211-SMU können Sie eine stabile, niedrige Strommessung in Hochkapazitätssystemen ermöglichen. Der 4200A-SCS verfügt über vier Modelle von Quellenmesseinheiten (SMU), die alle Ihre I-V-Messanforderungen anpassen können. Durch die Bereitstellung von vor Ort montierbaren Einheiten und optionalen Vorverstärkermodulen sorgt Keithley dafür, dass Sie die genauesten Niederstrommessungen erhalten, ohne dass Ausfallzeiten gering oder gar keine sind.

Eigenschaften

  • SMU erhöhen, ohne das Gerät in die Fabrik zurückzusenden
  • Flugsicherheitsmessungen durchführen
  • Bis zu 9 SMU-Kanäle
  • Optimiert für lange Kabel oder große Scheiben

Integrierte Lösung mit Analysedetektoren und Kryotemperaturreglern

Der Parameteranalysator 4200A-SCS unterstützt viele manuelle und halbautomatische Chipdetektoren und Kryotemperaturregler, einschließlich MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 Tieftemperaturregler.

Eigenschaften

  • "Klick" Testreihenfolge
  • Testdetektorfunktionen im "manuellen" Detektormodus
  • Fehlerdetektormodus für Debugging ohne Befehl entfernen

Kosten senken und Ihre Investition schützen

Das Garantieprogramm bietet schnelle und qualitativ hochwertige Dienstleistungen für einen kleinen Teil der Kosten eines On-Demand-Service-Ereignisses. Erhalten Sie einen Reparaturservice mit nur einem Klick oder einem Anruf, ohne Angebot oder Einkaufsformular und ohne Genehmigungsverzögerungen.

Erfahren Sie mehr

Technische Daten Modellnummer Beschreibung Preis
Technische Daten ansehen 4200A-SCS-PKA
Hochauflösende IV-Suite
4200A-SCS: Parameteranalysator-Host
4201-SMU: Zwei SMUs mit mittlerer Leistung für Hochkapazitätseinstellungen
4200-PA: Ein Vorverstärker
8101-PIV: Testklammer mit Probenahme
Angebot anfordern
Technische Daten ansehen 4200A-SCS-PKB
Hochauflösende IV- und CV-Pakete
4200A-SCS: Parameteranalysator-Host
4201-SMU: Zwei SMUs mit mittlerer Leistung für Hochkapazitätseinstellungen
4200-PA: Ein Vorverstärker
4215-CVU: Eine hochauflösende Multifrequenz-C-V-Einheit
8101-PIV: Testklammer mit Probenahme
Angebot anfordern
Technische Daten ansehen 4200A-SCS-PKC
Hochleistungs-IV- und CV-Kits
4200A-SCS: Parameteranalysator-Host
4201-SMU: Zwei SMUs mit mittlerer Leistung für Hochkapazitätseinstellungen
4211-SMU: Zwei leistungsstarke SMUs für Hochkapazitätseinstellungen
4200-PA: Zwei Vorverstärker
4215-CVU: Eine hochauflösende Multifrequenz-C-V-Einheit
8101-PIV: Testklammer mit Probenahme
Angebot anfordern
Technische Daten ansehen 4200-BTI-A
Ultraschnelle NBTI/PBTI-Pakete
Komplexe NBTI- und PBTI-Messungen mit modernster Silizium-CMOS-Technologie4200-BTI-ADas Paket umfasst:
  • 1 ultraschnelles I-V-Modul 4225-PMU
  • 2 Remote-Vorverstärker-/Schaltmodule mit 4225 U/min
  • Automatisiertes Prüfpaket (ACS)
  • Ultraschnelles BTI-Testprojekt-Modul
  • Verkabelung
Angebot anfordern

Biosensorprüfung

Biosensoren oder bioFETs verwandeln die biologische Reaktion auf Analyten in elektrische Signale. Die in den 4200A-SCS integrierte Clarius-Software umfasst ein Projekt zum Testen von bioFETs. Dabei werden die Übertragungs- und Ausgangseigenschaften von Biosensoren geprüft und von hier aus gearbeitet.

Laden Sie eine Anwendungsanleitung für Biosensoren herunter, um zu beginnen

Kapazitätsmessung

Mit dem Modul 4215-CVU werden Sub-Micro Fara-Kondensatoren gemessen. Durch den Antrieb von 1 V AC kann der Geräuschpegel der 4215-CVU bei der Messung eines 1 fF-Kondensators bis zu 6 attofarad niedrig sein. Dies ist nur eine der Dutzende Anwendungen, die mit der Clarius-Software zur Messung von Kapazitäten und zur Extraktion wichtiger Parameter geliefert werden.

Femtofarad (1e-15F) Kapazitätsmessung mit 4215-CVU

Optimale Kapazitäts- und Wechselstromimpedanzmessungen

Eigenschaften

  • Integrierte Flugmessfunktionen
  • 10.000 Frequenzschritte von 1kHz bis 10MHz
  • Anpassung jedes Tests für jedes Gerät mit der Benutzerbibliothek

Halbleiter- und NVM-Zuverlässigkeit

Nutzen Sie neue Technologien bei der Prüfung durch eine umfassende Impuls-I-V-Prüfung. Der 4200A-SCS bietet Unterstützung und Einsatzbereit-Tests für die neuesten NVRAM-Technologien, von Flash mit Schwimmtürschaltungen bis hin zu ReRAM und FeRAM. Duale Strom- und Spannungsquellen und Messfunktionen unterstützen sowohl die Übergangs- als auch die I-V-Domänenprüfung.

Beurteilung der Verschlechterung der Wärmeträgerinduktion von MOSFET-Geräten

Einnanosekundenpulslösungen für nicht flüchtige Speichertests

Impuls-I-V-Prüfung mit nicht flüchtiger Speichertechnologie

C-V-Messfunktionen für Anwendungen mit hoher Impedanz

Analyse der Kapazität von hochwiderstandsfähigen Proben mit der benutzerdefinierten C-V-Technik von Keithley. Diese Technologie kann nur mit dem SMU-Gerät (Source Measurement Unit) eingesetzt werden und kann in Kombination mit dem 4210-CVU für höhere Frequenzmessungen verwendet werden.

Parameteranalysator 4200A-SCS für extrem niederfrequente Kapazitäts- und Spannungsmessungen auf Hochimpedanzgeräten

Tipps und Techniken zur Vereinfachung der Prüfung von MOSFET/MOSCAP-Geräten

Eigenschaften

  • Frequenzbereich von 0,01 bis 10 Hz, Empfindlichkeit von 1 pF bis 10 nF
  • Typische Auflösung 3½ Bit, minimal typischer Wert 10 fF

Tests mit langen Kabeln oder kapazitiven Befestigungen

Verwenden Sie die 4201 oder 4211-SMU, wenn die Prüfung sehr lange Kabel oder Einrichtungen mit hohem Kapazität erfordert. Diese SMUs eignen sich ideal für die Verbindung von LCD-Teststationen, Detektoren, Schaltmatrizen oder anderen großen oder komplexen Testgeräten. Die vor Ort installierbare Version ermöglicht es Ihnen, die Kapazität zu erhöhen, ohne das Gerät in das Servicezentrum zurückzuführen.

Stabile niedrige Strommessung mit 4201-SMU und 4211-SMU durch hohe Prüfverbindungskapazitäten

Materialwiderstand

Mit dem 4200A-SCS mit integrierter SMU kann der Widerstand einfach mit einer Vierpunkt-Koaxialsonde oder der Vanderberg-Methode gemessen werden. Der enthaltene Test wiederholt die Vanderberg-Berechnungen automatisch und spart Ihnen wertvolle Forschungszeit. Die maximale Stromauflösung von 10aA und die Eingangsimpedanz von mehr als 10-16 Ohm liefern genauere und präzisere Ergebnisse.

Parameteranalysator 4200A-SCS und vierpunktige Koaxialsonde zur Durchführung der Widerstandsmessung von Halbleitermaterialien

Parameteranalysator 4200A-SCS zur Durchführung von Vanderberg- und Hall-Spannungsmessungen

MOSFET Prüfung

Der 4200A-SCS bietet Platz für alle notwendigen Instrumente, um eine umfassende MOS-Prüfung durch Komponenten- oder Wafer-Tests durchzuführen. Die enthaltenen Tests und Projekte lösen Probleme wie die Oxiddicke, die Grenzspannung, die Dopingkonzentration und die bewegliche Ionenkonzentration von MOSCap. Sie können alle diese Tests ausführen, indem Sie einfach die Taste in einem Gerätebox berühren.

Parameteranalysator 4200A-SCS zur Durchführung von MOS-kondensativen C‑V-Prüfungen

Technische Daten Module Beschreibung Konfiguration und Angebote
Technische Daten ansehen 4200-SMU Mittelleistungsquelle Messeinheit Konfiguration und Angebote
Technische Daten ansehen 4200-BTI-A Ultraschnelles BTI-Paket Konfiguration und Angebote
Technische Daten ansehen 4200-PA Remote-Vorverstärkermodul Konfiguration und Angebote
Technische Daten ansehen 4200A-CVIV IV CV Testschalter Konfiguration und Angebote
Technische Daten ansehen 4201-SMU Mittelleistungsmesseinheit Konfiguration und Angebote
Technische Daten ansehen 4210-SMU Hochleistungsmesseinheit Konfiguration und Angebote
Technische Daten ansehen 4211-SMU Hochleistungsmessgeräte Konfiguration und Angebote
Technische Daten ansehen 4215-CVU Kapazitive Spannung CV Messeinheit Konfiguration und Angebote
Technische Daten ansehen 4220-PGU Hochspannungs-Impulsgeneratoren Konfiguration und Angebote
Technische Daten ansehen 4225-PMU Ultraschnelle Impuls IV-Messeinheit Konfiguration und Angebote
Technische Daten ansehen 4225-RPM Remote-Vorverstärker-/Schaltmodul Konfiguration und Angebote

Automatisierte Steuerung vom Labor bis zur Wafer-Fabrik

Keithley Automation Inspection Kits (ACS) haben die volle Kontrolle über Ihr Gerät. Egal, ob Sie mehrere Geräte auf Ihrem Arbeitstisch steuern oder die gesamte Testanlage für die Produktion automatisieren möchten, ACS bietet eine flexible und interaktive Umgebung für Geräteprüfungen, Parameterprüfungen, Zuverlässigkeitsprüfungen und einfache Funktionsprüfungen.

  • Führen Sie einfache Einmaltests durch oder erstellen Sie komplexe Projektbaume
  • Schreiben Sie Code mit Python in ACS für unbegrenzte Flexibilität und Kontrolle
  • Manuelle oder automatische Wafer-Detektorsteuerung
  • Datenmanagement und statistische Analyse

Start der Automatisierung

Clarius+ Analyse-Kit

Mit der Clarius+ Software Suite erhalten Sie einfache Einblicke in die Prüfung von Materialien und Geräten. Clarius läuft lokal auf dem 4200A-SCS und kann Testergebnisse planen, konfigurieren und analysieren. Darüber hinaus kann Clarius auf jedem Windows 10-PC installiert werden, um Tests vor der Ausführung im Labor zu planen und zu konfigurieren oder Daten nach der Erfassung zu analysieren.

  • Mehr als 200 vorkonfigurierte Tests beschleunigen den Laborbetrieb
  • Echte Daten, sorgfältig von den Ingenieuren von Keithley gesammelt
  • Integrierte Kontexthilfe und Anwendungsanleitung
  • Überwachungsmodus zur Anzeige der Ergebnisse in Echtzeit

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