Hitachi Hightech hat am 15. April 2016 das neue Scan-Elektronenmikroskop FlexSEM 1000 weltweit vorgestellt. Das Produkt ist kompakt und hat eine kleine Fläche, aber die Auflösung verliert kein großes Elektroskop, und gleichzeitig ist die Bedienung extrem einfach und kann praktisch ohne Schulung betrieben werden. Kompaktes Design mit einer Auflösung von 4 nm.
Das Scan-Elektronenmikroskop ermöglicht die Beobachtung von Materialoberflächen mit hoher Vergrößerung und eine hochpräzise Elementanalyse, die in den Bereichen Nanotechnologie, Life Sciences, Produktdesign und Fehleranalyse weit verbreitet ist. In den letzten Jahren ist die Nachfrage nach Scanelektroskopen zur Beobachtung feiner Oberflächenstrukturen und zur Elementaranalyse gestiegen, und immer mehr Anwender wollen Scanelektronenmikroskope in begrenzten Räumen wie Produktionslinien, Qualitätssicherungsprüflinien und Bürobereichen verwenden. Daher ist das kleine, einfache und auflösende Scan-Elektronenmikroskop sehr wichtig. Der FlexSEM 1000-Host ist 450 mm breit und 640 mm lang und um 52 % kleiner als der SU1510, um 45 % weniger Gewicht und um 50 % weniger Stromverbrauch und verfügt über eine standardisierte Stromanschlüsselung. Die Host und die Stromversorgung können getrennt werden und sind sehr flexibel zu installieren.
FlexSEM 1000 verfügt über ein neues elektronisches optisches System und einen zuverlässigen, hochempfindlichen Detektor mit einer Auflösung von bis zu 4 nm. FlexSEM 1000 verfügt über eine Vielzahl von Automatisierungsfunktionen und ist einfach zu bedienen, so dass selbst der erste Bediener schnell qualitativ hochwertige Bilder aufnehmen kann. Darüber hinaus ermöglicht die neu entwickelte Navigationsfunktion „SEM MAP“ die Navigation mit einer Vielzahl von optischen Bildern oder Elektroskopfotos, um mit einem Klick schnell und präzise zu einem interessanten Sehfeld mit hoher Vergrößerung zu wechseln.

Eigenschaften:

a. Durch hochempfindliche Sekundärelektronik-Detektoren, Rückstreuungsdetektoren, Niedervakuumdetektoren (UVD)^*2), um qualitativ hochwertige Bildbeobachtungen bei niedriger Beschleunigungsspannung / niedrigem Vakuum zu ermöglichen

b. Einfache Bedienung, auch Neulinge können qualitativ hochwertige Bilder aufnehmen

c. Neu entwickelte Navigationsfunktion „SEM MAP“ zur schnellen Sichtsicherung

Große Fenster (30 mm)²SDD-Spektrumsystem zur schnellen Analyse der Elementzusammensetzung^*2

*1 Trennen Sie die Konsole und das Netzteil beim Einrichten auf dem Desktop

*2 Optional

Projekte		Inhalt
Zersetzungskraft*3		4,0 nm @ 20 kV (SE: Hochvakuummodus) 15,0 nm @ 1 kV (SE: Hochvakuummodus) 5,0 nm @ 20 kV (BSE: Niedervakuummodus)
Beschleunigte Spannung		0.3 kV ～ 20 kV
Vergrößern		6 x bis 300.000 x (Filmvergrößerung) 16 x bis 800.000 x (Vergrößerung anzeigen)
Niedervakuummodus		Vakuumbereich: 6 bis 100 Pa
Elektronische Waffe		Vorgepaarter Wolfram Lampdraht
Probentesch		3-Achsen-Automatik-Motortisch X：0 ～ 40 mm, Y：0 ～ 50 mm, Z：5 ～ 15 mm R：360°, T：-15° ～ ＋90°
Maximale Probengröße		Durchmesser 80 mm
Maximale Probenhöhe		40 mm
Größe		Gehäuse: 450(W) x 640(D) x 670(H) mm Stromversorgung: 450(W) x 640(D) x 450(H) mm
Detektorauswahl		Hochempfindliche, niedrige Vakuum Sekundärelektronische Detektoren (UVD) Energieverteilter Röntgendetektor (EDS)