QUANTAX FlatQUAD ist ein EDS-Mikrozonenanalysesystem, das auf dem revolutionären XFlash FlatQUAD-Detektor basiert. Dieser einzigartige, kreisförmige, vierkanalige SDD-Detektor arbeitet zwischen dem Scan-Elektroskopstopstiefel und der Probe und ermöglicht eine EDS-Analyse mit größeren Feststoffwinkeln. In Kombination mit der ESPRIT-Analysesoftware liefert das QUANTAX FlatQUAD-System eine optimale Oberflächenverteilung für Proben, die mit herkömmlichen Scheibe-Spektren schwer analysiert werden können. In der Sondekomponente des XFlash FlatQUAD-Detektors sind vier unabhängige Siliziumdrift-Chips in einem Ring um das zentrale Loch angeordnet, durch das ein eingehender Elektronenstrahl durchgeht. Das Detektormaterial wurde speziell ausgewählt, um Auswirkungen auf den Elektronenstrahl zu vermeiden und ein hochwertiges Elektroskopbild zu gewährleisten. Mit der neuen Detektortechnologie,

Der Kern des QUANTAX FlatQUAD-Systems – der XFlash FlatQUAD-Detektor，

Basierend auf dem innovativen Detektor-Design-Konzept, installiert in der horizontalen Schnittstelle des Scan-Elektroskop-Probenlager, so dass der Detektor zwischen dem Elektroskop-Polstiefel und der Probe platziert wird. Der herkömmliche Detektor verwendet eine geneigte Schnittstelle des Elektroskops. Der XFlash FlatQUAD-Detektor ist mit verschiedenen Arten von Scan-Elektroskopen kompatibel. Der Detektor ist mit speziellen Polymerfenstern unterschiedlicher Dicke ausgestattet, die Rückstreuelektronen bei unterschiedlichen Beschleunigungsspannungen aufnehmen können.

Scanelektroskopische Spektralonalyse für optimierte Feststoffwinkel:

Die Position und die Größe des XFlash FlatQUAD-Detektorchips (4 x 15 mm effektive Fläche) bieten einen größeren festen Winkel für die Röntgenaufnahme im Scanelektroskop. Fähigkeit, einen Feststoffwinkel größer als 1sr und einen Prüfwinkel von mindestens 60 ° zu erhalten.

Ultrahohe Zählrate und Energieauflösung

Eine extrem hohe Erfassungseffizienz führt zu einer extrem hohen Zählrate, wobei jeder Chip mit einem separaten Signalverarbeitungskanal ausgestattet ist. Die Input Count Rate (ICR) und die Output Count Rate (OCR) können bis zu 4.000 kcp/s bzw. 1.600 kcp/s erreicht werden. Durch die SDD-Technologie von Brook Professional kann der XFlash FlatQUAD eine Energieauflösung von Mn-Kα126eV, C-K 51eV und F-K60eV bei einer Zählrate von 100 kcps gewährleisten.

Grundsatz:

Der XFlash FlatQUAD ist ein Flachplug-Detektor, der zwischen dem Scan-Elektroskop-Polarstuhl und der Probe platziert wird. Vier Siliziumdriftkristalle sind ringsförmig um das zentrale Loch herum angeordnet, und der einfallende Elektronenstrahl durchläuft das zentrale Loch. Geeignet für verschiedene Arbeitsabstände und mit ausgezeichneter Leistung.