Helles Dunkelfeld Metallphasemikroskop MJ33

MJ33 ist ein vielseitiges industrielles Inspektionsoptisches Instrument mit hellen / dunklen Objektiven, großen Sichtfeldbrillen und polarisierten Beobachtungsgeräten. Kann für die Prüfung von Halbleiter-Siliziumchips, LCD-Substraten, Leiterplatten, Festschäumen und anderen verschiedenen transparenten oder undurchsichtigen industriellen Proben verwendet werden, ist das ideale Instrument für die Forschung in der Biologie, Metallologie, Mineralogie, Präzisionstechnik, Elektronik und anderen Bereichen.

Eigenschaften:

Ausgestaltet mit unbegrenzter Fernoptik und modularer Funktionalität.

Lange Arbeitsdistanz Licht / Dunkel Sichtfeld Flachfeldobjektiv, das Sichtfeld ist groß und klar.

Breitwinkel-Flachfeldbrille: Sichtfelddurchmesser Ф22mm.

Koaxiale Schwerpunkteinstellung, schwerpunktlösend einstellbar, mit begrenzter Verriegelungseinrichtung, Schwerpunktwert: 2 μm.

Eingebaute schaltbare Polarisationsbeobachtungseinrichtung, die sich um 360° drehen kann.

Die obere Lichtquelle verwendet eine 12V50W-Halogenlampe mit flippender Abdeckung, um die Leuchte sicher und bequem zu ersetzen, die untere Lichtquelle verwendet eine 12V30W-Halogenlampe und eine Kühlplatte.

Der Spiegel kann frei zwischen visueller Beobachtung und Mikrofotografie wechseln und ist zu 100% durchleuchtet, was sich für die Aufnahme von Dunkelfeld-Mikrobilder eignet.

Funktion:

1. ausgestattet mit hellen / dunklen Objektiven, großen Sichtfeldbrillen und polarisierten Beobachtungsgeräten, reflektierende Beleuchtung mit dem "Kohler"-Beleuchtungssystem, um den Kunden eine Vielzahl von Beobachtungsmitteln zu bieten;
2. Triokular kann die visuelle Beobachtung und die Mikrofotografie frei wechseln, während die Fotografie zu 100% durchleuchtet wird und unter dem dunklen Sichtfeld ein Mikrobild aufnehmen kann.