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Helles und Dunkles Feldmikroskop MJ33-DIC
Hell and Dark Field Metallophasemikroskop MJ33-DIC Produktbeschreibung Das MJ33-DIC Differential Interference Phase Liner Mikroskop eignet sich für di
Produktdetails

Helles und Dunkles Feldmikroskop MJ33-DIC

Produktbeschreibung

Das MJ33-DIC Differential Interference Phase Liner Mikroskop eignet sich für die mikroskopische Beobachtung einer Vielzahl von Objekten. Die Konfiguration des fallenden DIC-Beobachtungssystems und des transmissiven Beleuchtungssystems, der unendlichen Langstrecke des Flachfelds, der großen Sichtfeld-Brille und der polarisierten Beobachtungseinrichtung, mit dem Stereo-Bildgefühl und der Klarheit, der schönen Gestaltung und der einfachen Bedienung, ist das ideale Instrument für die Forschung in der Biologie, Metallologie, Mineralogie, Präzisionstechnik und Elektronik.


Eigenschaften:

Ausgezeichnete optische Leistung durch das unbegrenzte Fernoptiksystem.

Der kompakte, stabile und hochsteife Körper spiegelt die Vibrationsschutzanforderungen des Mikrobetriebs vollständig wider.

Ein ideales Design, das den ergonomischen Anforderungen entspricht, macht den Betrieb bequemer und komfortabler und bietet größeren Raum.

Eingebaute schaltbare Polarisationsbeobachtungseinrichtung, die sich um 360° drehen kann.

Bei der Beobachtung der Differenzierungsinterferenzphasenlinie ist das Bild klar, die interferenzfarbe ist gleichmäßig und hat ein starkes Reliefsgefühl.

Echte Bilder
  • Leitungspartikel

  • LED-Unterplatte

Produktparameter

Projekte

Spezifikationen

Brille

WF10X/22

Brille

30° Neigung, Trio, eingebauter Inspektor, schaltbar

Objektive

Unbegrenzte Langstrecke Flachfeld-Farbdifferenz-Objektiv LMPlan 5X/0,12 DIC, ohne Abdeckschiebe, Arbeitsabstand: 18,2 mm

Flachfeld-Farbdifferenz-Objektiv LMPlan 10X/0,25 DIC mit unbegrenzter Arbeitsweite, ohne Abdeckschiebe, Arbeitsweite: 20,2 mm

Unbegrenzt lange Arbeitsdistanz Flachfeld-Farbdifferenz-Objektiv LMPlan 20X/0,35 DIC, ohne Abdeckschiebe, Arbeitsdistanz: 6,0 mm

Flachfeld-Farbdifferentiellobjektiv PL L40X/0.60 mit unbegrenzter Arbeitsweite, ohne Abdeckschiebe, Arbeitsweite: 3,98 mm

DIC Beobachtungssystem

Für LMPlan 5X DIC, LMPlan10X DIC und LMPlan20X DIC

Objektivumsetzer

Fünfloch-Innenkugelpositionierwandler

Laststelle

Doppelschichtmechanischer Tragstisch, Größe: 210 mm x 140 mm; Bewegungsbereich: 63 mm x 50 mm

Glasplatte: 97mm x 76mm

Beleuchtungssystem

12V50W Halogenlampe mit einstellbarer Lampenposition

Sichtfeld Licht Append (eingebaut)

Öffnungslichthänger (eingebaut)

Filterumwandler (mit gelben, blauen, grünen Filtern, geschliffenem Glas)

Schiebeinspektoren und Polarisatoren

Fokussierungsorgane

Grob fein eingestellte Koachse mit Platzbegrenzungs- und Verriegelungseinrichtung, fein eingestellter Handrasterwert von 2μm

Transmissive Beleuchtung

12V30W Halogenlampe, einstellbare Helligkeit, einstellbare Lampenposition

Lichtaufnehmer, integrierter Sichtfeld-Lichtpendent

Abbe Fokus, kann steigen und fallen, NA1.25

Blauer Filter

Schleifglas

Kamera-Schnittstelle

1XC

Kundenfälle
  • DIC Metallphasemikroskop zur Beobachtung leitfähiger Partikel
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  • Metallphasemikroskop MJ33-DIC Farbseite
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